Eduard FE289 MC 205 Veltro 1/48 Hasegawa – Zestaw Blaszek Fototrawionych

Zestaw fototrawionych detali Eduard FE289 dedykowany do modelu samolotu Macchi MC 205 Veltro w skali 1:48, wyprodukowanego przez firmę Hasegawa, to propozycja dla najbardziej wymagających modelarzy lotniczych. Dzięki najwyższej jakości wykonaniu, produkt ten umożliwia znaczne podniesienie realizmu repliki jednego z najważniejszych włoskich myśliwców z okresu II wojny światowej.

Charakterystyka produktu:

• Skala: 1/48
• Przeznaczenie: model plastikowy Hasegawa Macchi MC 205 Veltro
• Kraj użytkowania oryginału: Włochy
• Okres używania oryginału: II wojna światowa (1943–1945)
• Materiał wykonania: fototrawiona blacha mosiężna
• Kategoria: dodatki modelarskie – blaszki fototrawione

Informacje historyczne:

Macchi MC 205 Veltro to jeden z najsłynniejszych włoskich samolotów myśliwskich z okresu II wojny światowej, będący rozwinięciem wcześniejszego modelu MC 202. Samolot był wykorzystywany głównie przez Regia Aeronautica oraz Luftwaffe na froncie śródziemnomorskim w latach 1943–1945, odznaczając się znakomitą zwrotnością i mocnym uzbrojeniem. Brał udział w wielu zmaganiach powietrznych, w tym podczas obrony nieba nad Włochami oraz na terenie Afryki Północnej.

Zawartość zestawu:

• Arkusz fototrawiony zawierający finezyjne detale kokpitu, tablicę przyrządów, pasy bezpieczeństwa, elementy siedzenia oraz panele boczne
• Detale umożliwiające odtworzenie charakterystycznej włoskiej precyzji w kokpicie MC 205 Veltro
• Kolorowe elementy, dzięki którym wnętrze modelu nabiera głębi – nie wymagają malowania

Rekomendacja:

Produkt polecany jest szczególnie średniozaawansowanym i zaawansowanym modelarzom (stopień trudności 3/5), którzy pragną precyzyjnie odwzorować elementy wnętrza modelu oraz podnieść jego walory ekspozycyjne. Blaszki Eduard FE289 doskonale pasują do modelu Hasegawa, są przejrzyste w montażu i pozwalają wyciągnąć maksimum detalu z repliki. Świetny wybór dla pasjonatów historii lotnictwa i kolekcjonerów modeli z okresu II wojny światowej.